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(填空题)

X荧光定量分析方法从样品制备的角度出发,可分为()、熔融法、固体试样法、薄试样法。

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

相似试题

  • (填空题)

    X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。

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  • (填空题)

    影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、()、()

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  • (单选题)

    在X荧光分析中,以下样品的哪个因素不属于物理效应。()

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  • (简答题)

    简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?

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  • (填空题)

    X荧光分析法基体的影响可分两大类,一类是()引起的,另一类是样品粒度,表面结构等造成的。

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  • (简答题)

    简述制定X荧光定量分析方法的基本步骤。

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  • (填空题)

    X射线荧光定量分析方法有()和()两大类。

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  • (单选题)

    X荧光分析中,下边哪种方法不能降低背景()。

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  • (单选题)

    X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。

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