（简答题）
请以流气正比计数器为例说明逃逸峰的产生过程。
正确答案
当从晶体衍射出来的特征X射线荧光能量大于或等于Ar气的K层电子激发电位时，可以使Ar气产生ArKα线，Ar气对ArKα线吸收的可能性很小，就是说ArKα线能量从探测器逸出而损失，剩余的能量被探测器检测，产生的峰称为特征X射线的逃逸峰。逃逸峰的能量等于待测元素的能量减去ArKα的能量
答案解析
略
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（填空题）
流气式正比计数器使用的P10气体是（）混合气体。
（填空题）
流气正比计数器适用于（）和长波辐射的探测（0.1-8keV）。
（填空题）
正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。
（填空题）
X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q，Q为品质因子，当计数率＜20kcps时，闪烁计数器的Q＜（），充Ar流气正比计数器的Q＜（）。
（填空题）
AxiosX荧光光谱仪流气探测器的最大计数率为：（）。
（简答题）
已知CrKα线的能量为5.41keV，ArKα能量为2.96keV，求Cr的逃逸峰的波长？
（单选题）
在正比计数器内，甲烷气体的作用是（）
（单选题）
正比计数器中的（）作为淬灭气体。
（填空题）
常用的X射线正比计数器分为（）和（）两大类，。
