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(单选题)

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()

A测定斜探头K值

B测定直探头盲区范围

C测定斜探头分辨率

D以上全部

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

相似试题

  • (判断题)

    CSK-ⅢA试块的反射体孔径是φ1×6。

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  • (单选题)

    试块的最小几何尺寸根据()。

    答案解析

  • (单选题)

    使用对比试块的主要目的是()。

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  • (简答题)

    简述试块的主要用途是什么?

    答案解析

  • (单选题)

    试块是用于探伤系统性能测试或灵敏度调整的试块。试块的材质、形状、尺寸()。

    答案解析

  • (单选题)

    CSK-ⅢA试块的反射体孔径是()。

    答案解析

  • (单选题)

    用试块的方法标准探测灵敏度时,为避免修正,则应采用()。

    答案解析

  • (多选题)

    下列试块的叙述与JB/T4730.5-2005相符合的是:()

    答案解析

  • (单选题)

    用试块的方法校准仪器探测灵敏度时,为避免修正,则应采用()。

    答案解析

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