(单选题)
容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。
A波长的一半
B1个波长
C1/4波长
D若干波长
正确答案
答案解析
略
相似试题
(单选题)
超声波容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。
(判断题)
容易探测到的缺陷尺寸一般不小于超声波长的一半。
(判断题)
超声探伤,能够探测的缺陷尺寸,一般不小于一个波长。
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从各个方向都能探测到的缺陷是平面状缺陷。
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超声波探伤,从各个方向都能探测到的缺陷是()缺陷。
(填空题)
在超声波探伤中,从各个方向都能探测到的缺陷是()缺陷。
(填空题)
探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。
(单选题)
在超声波探伤中,()的1/2左右的缺陷尺寸为探测极限。
(单选题)
长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。