(判断题)
局部放电的损耗使介质损耗值增加。()
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
(填空题)
在高于起始放电电压时,绝缘的介质损耗会随电压的增加而()。因此,用测量介质损耗的方法,可以探测设备的局部放电,即所谓测量绝缘的()。但这种方法的灵敏度较低。
(单选题)
当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。
(判断题)
当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。
(多选题)
介质损耗随温度的增加而增大。这是由于温度高,()导致介质损耗增加。
(单选题)
当绝缘介质一定,外加电压一定时,介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成()。
(简答题)
对一台66kV,8000kVA的变压器进行介质损耗测量时,若试验方法,试验环境相同,且测量值换算至同一温度后,测量结果若逐年增加,并排除了外界条件的影响,可说明什么问题?
(简答题)
测量介质损耗角正切值有何意义?
(单选题)
某试验站采用西林电桥测量绝缘套管的介质损耗正切值tanδ,采用的电压频率f=50Hz,电桥内的电阻R4取3184Ω,调节电阻R3及电容C4使检流计指零,此时电容C4的电容量为0.08μF,则介质损耗正切值tanδ为()。
(判断题)
当设备各部分的介质损耗因数差别较大时,其综合的tgδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。