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(单选题)

在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

A其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大

B其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大

C其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小

D其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

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    在同一条件下进行磁粉探伤,交流磁化法比直流磁化法对近表面内部缺陷的检测灵敏度高。

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