（填空题）
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的（）。
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。
（单选题）
使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。
（简答题）
TB/T2658.21—2007规定，对钢轨焊缝轨底部位用双探头K型扫查时，灵敏度如何校准？
（简答题）
TB/T2658.21—2007标准规定，焊缝轨腰部位双探头探伤时，K型扫查其灵敏度如何校准？
（单选题）
钢轨焊缝用的扫查装置，当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时，扫查间隔应不大于（）。
（判断题）
阵列式探头通常是由三个及以上的压电晶片组装的探头。
（填空题）
用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行（）扫查，能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
（简答题）
画出焊缝轨底部位K型扫查探伤灵敏度校准图。
（判断题）
焊缝探伤所用的阵列探头分段扫查间隔应≤15mm。
