（判断题）
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
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（判断题）
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
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THDS-A（哈科所）系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。
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THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。
（判断题）
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
（单选题）
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。
（多选题）
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。
（判断题）
THDS-A（哈科所）系统，元件温度与正常值偏离较大，则用万用表测量探头温控板输出，如果换算出的温度与正常值相差很大，则更换AD采集板。
（判断题）
THDS-A（哈科所）系统，双侧热靶曲线为一个点，可能造成双侧探头测温异常。
