（单选题）
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
A球面干涉
B等倾干涉
C等厚干涉
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。
（单选题）
某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）
（单选题）
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
（判断题）
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
（单选题）
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（简答题）
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
（单选题）
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（单选题）
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（单选题）
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