（多选题）
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。
A经验系数法
B计算法
C基本参数法
D理论影响系数法
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
（名词解析）
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
（单选题）
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
（判断题）
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
（判断题）
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
（判断题）
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
（多选题）
X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。
（判断题）
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
（多选题）
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
