（1）应用一个合适的检验源校验仪器是否正常，仪器对检验源的读数变化超过±20％时必须重新校准。
（2）必须经常检查仪器本底计数率。
（3）测量前，必须测量被测场所的本底计数率。
（4）测量期间的几何条件应与仪器校准时所采用的几何条件尽可能保持一致，为此，可采用可移动的定位架。
（5）探测器在三倍响应时间内必须保持固定。
（6）采用和待测放射性核素相应的仪器效率。
（简答题）
简述α、β表面污染测量时的操作规程。
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
α、β表面污染间接测量法只能测定可去除的表面污染。
（判断题）
α、β表面污染直接测量法测定可去除的与固定的表面污染之和。
（判断题）
α、β表面污染可以通过直接测量方法来测定，但不宜通过间接方法测定。
（简答题）
α、β表面污染仪器的效率是什么？
（简答题）
由于操作失误，一张光滑的工作台面被α辐射体沾污。为了解工作台面的污染水平，使用一台α表面污染测量仪直接进行测量，测得的总计数率n为4cps，未污染台面的本底计数率nb为2cps，仪器的灵敏窗面积W为lO×10cm2，该仪器对α的表面活度响应Ri为2c•s-1•Bq-1•cm2，试计算该工作台面的α表面污染水平As。
（单选题）
β表面污染测量时，探测器与被测表面之间的距离为（）cm。
（单选题）
臃面污染测量时，探测器与被测表面之间的距离为（）cm
（判断题）
锶-90既是发射体α粒子，也是β放射源。
（简答题）
简述用ICP法测定空气滤膜样品时的主要分析操作步骤。
