（填空题）
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。
（判断题）
探头晶片尺寸增加，近场区长度增加，对探伤不利。
（简答题）
说明指向角和近场区长度的关系，在实际探伤中如何选择探头频率和晶片的尺寸？
（简答题）
计算题：求折射角为37°斜探头在钢中的近场区长度。（已知λ=1.6mm、α=30°、晶片尺寸为10mm×13mm）。
（判断题）
斜探头近场区长度是按晶片在投影后的有效面积计算。
（判断题）
超声场近场区长度和指向角的大小都取决于超声波的波长及晶片的尺寸。
（简答题）
计算题：有一个8mm×10mm方晶片制作的纵波直探头，其近场区长度为10.8mm，求该探头的频率（已知钢Cl=5900m/s）。
（简答题）
计算题：计算14×16mm方晶片制作的频率为2.5MHzK1斜探头在钢中的近场区长度（钢Cl=3230m/s）。
（单选题）
探头的近场长度由下式决定（式中λ波长，f频率，D晶片直径）（）。
