（单选题）
用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。
A最小条件
B包容原则
C相关原则
正确答案
答案解析
略
相似试题
（填空题）
用光线基准法测量平面度的方法，是以三点定一面确定测量基准面的。为减少其误差影响，在调整时选定在被测表面上相距（）的三点确定测量基面。
（填空题）
用光线基准法测量平面度的方法，是以三点定一面确定测量基准面的。为减少其误差影响，在调整时选定在被测表面上相距（）的三点确定测量基面。
（判断题）
用对角线法测量平面度的实质是通过表面上的一条对角线且平行于第一条对角线的平面作为评定基面（理想平面），以各测点至评定基面的最大正值和最大负值的绝对值之和作为被测平面的平面度误差。
（单选题）
修理千分尺的测量面的平面度误差和平行度误差时，应（）
（单选题）
测量大型工作台面的平面度误差时，采用（）法可得到较高的测量精度。
（单选题）
选择平板测量机床被检平面的平面度时，应根据实际测量的（）和精度要求选择不同的平板。
（填空题）
水平仪用于测量机床导轨在垂直平面内的直线度、工作台面的（）等。
（单选题）
用间接测量法测量平面度误差时，评定平面度误差是包容表面且距离为最小的两（）平面间的距离。
（单选题）
激光干涉仪：激光是平面波，其光束发散角极小，几乎相当于一束平行光，激光的单色性好，（），所以用激光干涉法可进行长距离的测量。
