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(单选题)

单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。

A近场干扰

B材质衰减

C盲区

D选择范围

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

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  • (单选题)

    直探头接触法探伤时,()要涂布耦合剂。

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