(1)A为分析线有背景。此时待测元素含量低,背景强度几乎等于分析线强度(Ib≈I1),即多一附加项,同样的c所得的lgR要大,故工作曲线向纵轴弯曲。
B为内标线有背景。即曲线平移一段距离(lg),但仍保持线性关系。
(2)A对测定结果有影响。(2)B对测定结果无影响。
(简答题)
在(a),(b)两图中,实线代表原子发射光谱法中有背景时的工作曲线,虚线代表扣除了背景后的工作曲线,试说明: (1)各属于什么情况下产生的光谱背景(判断光谱干扰是来自分析线还是来自内标线)? (2)对测定结果有无影响?
正确答案
答案解析
略
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(简答题)
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(简答题)
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(单选题)
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