(判断题)
X射线荧光分析标准添加法和稀释法中,仍需要标准和校准曲线。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
(填空题)
X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()
(填空题)
X射线荧光光谱法中,分析微量Si的样品不能用()磨料抛光。
(填空题)
X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。
(多选题)
X射线荧光光谱分析标准化的方法有()校正法。
(多选题)
X射线荧光光谱标准加入法可通过()求得试样的分析结果。
(单选题)
X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。
(名词解析)
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
(判断题)
X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。
(多选题)
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果,应使用有证的标准样品,标准样品与分析试料的()尽可能一致。