（单选题）
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）
A当量相同
B铸件中的大
C锻件中的大
D上述都不对
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。
（单选题）
探测面光洁度分别△2和△1的两个试块中，具有直径、取向、距离都相同的横通孔，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度：（）
（单选题）
同直径的三个平底孔处于同一试块中，但深度分别为100、200和300mm，在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时，回波最高的平底孔深度为（）。
（单选题）
探测面光洁度不同，横通孔直径、取向、距离都相同，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度（）。
（判断题）
在相同的探测条件下，对同一焊件分别用横波和纵探测的，横波的检测灵敏度比纵波高。
（单选题）
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。
（单选题）
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。
（单选题）
在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）
（判断题）
探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。
