（多选题）
经确认由设计、（）和/或（）共性因素导致的设备缺陷称为家族缺陷。
A设备信息收集
B材质
C工艺
D风险评估
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
经确认由设计、和（或）材质、和（或）工艺等共性因素导致的设备缺陷称为（）。
（多选题）
经确认由（）等共性因素导致的设备缺陷称为家族缺陷。
（多选题）
家族性缺陷一般是由哪些共性因素导致的？（）
（单选题）
哪项不是导致家族性缺陷的共性因素？（）
（单选题）
状态量的扣分值应该由哪个或者哪些因素决定（）。
（单选题）
对（）及异常状态设备应及时安排设备检修，防止决策失误导致的设备事故和障碍发生。
（填空题）
全电流由阻性电流和（）电流组成。
（填空题）
测量耦合电容器的电容量和介质损耗因数时，多节串联的应（）测量。测量前应确认外绝缘表面清洁、干燥，分析时应注意温度影响。
（填空题）
每一个要素的损失程度由（）和要素损失概率确定。
