（单选题）
在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时，常采用的测量仪器为（）。
A光学显微镜
B扫描隧道显微镜
C原子力显微镜
正确答案
答案解析
略
相似试题
（简答题）
件述非接触式激光干涉测量表面形貌和表面粗糙度的原理。
（判断题）
PCB的直接电镀技术就是可以将材料不加任何处理，在非导体表面直接进行。
（简答题）
在最大泡压法测定溶液的表面张力实验中，测量表面张力时毛细管末端插入到溶液内部进行测量行吗？为什么？
（判断题）
表面粗糙度是表面形貌的最重要的特征。
（判断题）
可以通过在零件非工作表面进行锉削来简易判断零件的材质。（）
（单选题）
测量零件已加工表面的尺寸和位置所使用的基准为（）基准。
（填空题）
当红外辐射照在半导体表面时，电子空穴由束缚态变为自由态使半导体电性能现象称为（）。
（判断题）
冲裁厚板或表面质量及精度要求不高的零件时，为了降低冲裁力，一般采用加热冲裁的方法进行。
（填空题）
当零件所有具有相同的（）要求时，可在图样在上方统一标注表面粗糙度代号当零件表面的大部分表面粗糙度相同时，可将相同的表面粗糙度代号标注在图样（），并在前面加注其余两字.
