（判断题）
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
（单选题）
利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。
（判断题）
CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
（简答题）
用CSK-ⅠA试块测定一斜探头的前沿长度L0和K值。用R100弧面测试，找到最高波，此时探头前沿至R100弧面端点距离M为85mm。用Ф50孔测试，找到最高波此时探头前沿至试块端面的距离L为78mm。试计算此探头的前沿长度l0和K值。
（判断题）
CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。
（单选题）
CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同
（判断题）
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
（单选题）
CSK-IIIA试块上的Φ1x6mm横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同
（单选题）
模拟式超声波探伤仪用K1.5的横波斜探头用CSK-Ⅰ试块按深度1：1进行扫描速度校 准，R50、R100圆弧面的回波应分别对准水平刻度（）
