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(单选题)

利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光()

ALiF220

BLiF200

CGe111

DPE002

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

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  • (单选题)

    测P时用下面哪块晶体进行分光()

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  • (简答题)

    X荧光光谱仪衍射晶体的选择原则有哪些?

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  • (填空题)

    利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时,AsKα线与PbLα线有干扰,则应选择()线进行分析。

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  • (填空题)

    X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用()和()来接受被测元素特征光谱信号的。

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  • (填空题)

    X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。

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  • (单选题)

    X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。

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  • (填空题)

    AxiosX荧光光谱仪停机超过24小时,需对X-RayTube进行()处理。

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  • (单选题)

    柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装()五块衍射晶体。

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  • (填空题)

    柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装有:()五块衍射晶体。

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