（单选题）
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）
A单斜探头法
B单直探头法
C双斜探头前后串列法
D分割式双直探头法
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）
（单选题）
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（单选题）
筒形锻件最主要探测方向是（）
（单选题）
轴类锻件最主要探测方向是（）
（单选题）
饼类锻件最主要探测方向是（）
（填空题）
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（单选题）
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（单选题）
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（单选题）
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