假若晶体中没有不均匀应变的个晶格缺陷的存在,衍射线宽化完全是由于经历尺寸(或镶嵌块尺寸)大小引起的,可以证明有以下关系:
谢乐公式:
Dhkl垂直于(hkl)面方向的晶粒尺寸(Å)
β—由于晶粒细化引起的衍射峰宽化
K.常数,β取衍射峰半高宽β1/2,K=0.89;β取衍射峰积分宽度βi,K=1.00。
样品尺寸:1nm—100nm。
注意事项:先用标准试样测定仪器本身的宽化,进行校正;对Kα进行双线分离求得Kα1带入谢乐公式;可选取同一方向两个衍射面进行计算以便比较。
(简答题)
写出谢乐公式,说明各参数的含义,并说明利用谢乐公式计算微晶尺寸时,样品尺寸的适用范围和主要注意事项。
正确答案
答案解析
略
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