(判断题)
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
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(判断题)
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。
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磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用直流电流磁化试件
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磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件
(判断题)
磁粉探伤中,为了有效地检出近表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件
(填空题)
磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件
(判断题)
磁粉探伤法只能检查铁磁性材料的表面及近表面位置缺陷
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磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。
(判断题)
磁粉探伤方法适用于检测点状缺陷和平行于表面的分层。
(填空题)
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