（判断题）
对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。
（判断题）
对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。
（单选题）
于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。
（判断题）
对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tanδ时一般升压至10kV。
（判断题）
当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
（单选题）
tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。
（判断题）
西林电桥测试tanδ时，升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。
（判断题）
当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。
（判断题）
采用QS1电桥进行反接线测试tanδ，其工作电压不可超过10kV。
