（单选题）
靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）
A声束扩散
B材质衰减
C仪器阻塞效应
D折射
正确答案
答案解析
略
相似试题
（填空题）
靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（）效应
（单选题）
靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到，因为（）
（单选题）
单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。
（单选题）
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
（单选题）
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。
（单选题）
用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）
（单选题）
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。
（简答题）
用2.5P14Z探头探测某锻件，发现在100mm深处有一个Φ6当量平底孔缺陷，根据标准应评几级？
（单选题）
当用一个探头探测某缺陷时，如果该缺陷会给出多个回波显示，则所用探头的主声束可能存在下述情况（）
