（判断题）
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。
（简答题）
使探头与被检材料直接接触进行超声探伤的方法可能有哪几种？
（单选题）
使用两只独立的探头在被检工件相对探测面进行探伤的方法称为（）。
（填空题）
斜探头横波探伤所得的缺陷在探测面上投影位于探头（）。
（单选题）
芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为（）。
（单选题）
将两个探头分别放在被检工件相对的表面上，其中一个探头发射另一个探头接收，通过观察声波穿透试件后的声压变化情况进行探伤的方法，称为（）。
（单选题）
芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做：（）。
（简答题）
在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？
（简答题）
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
