（判断题）
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。
（单选题）
较小的探头晶片尺寸发射的超声波束，其远场覆盖面积（）。
（填空题）
晶片尺寸较小的探头发射的超声波束，其远场覆盖面积（）。
（判断题）
超声波探伤，为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。
（简答题）
探头晶片尺寸增加，对探伤有哪些有利因素？
（判断题）
检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
（填空题）
探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
（判断题）
阵列式探头通常是由三个及以上的压电晶片组装的探头。
（简答题）
探头晶片尺寸选择应考虑哪些因素？横波斜探头Ｋ值如何选择？
