（单选题）
射线探伤时，使用像质计的主要目的是（）。
A测量缺陷的大小
B测量缺陷的位置
C测量缺陷的几何不清楚度
D确定底片的彩像质量
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
制作金属丝型像质计的衬板或封套、框架，其材质的射线吸收系数应比金属丝的射线吸收系数（）。
（单选题）
射线透照厚度1.25in的铸件，射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（）。
（单选题）
在焊缝上摆放线条型像质计时，像质计（）应接近射线透照场边缘方向。
（判断题）
象质计的摆放位置应在射线透照区域内显示灵敏度最高的部位。（）
（单选题）
用高能射线设备探伤时，增大焦距的主要目的是（）。
（判断题）
常用的像质计是板式像质计。
（单选题）
周向曝光检验环焊缝时，像质计（）。
（判断题）
用高能射线设备探伤时，增大焦距的主要目的是提高照射场强度的均匀性。
（多选题）
按JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》标准规定，当被检工件的材料为低合金钢时，不可以使用（）材料制做的像质计。
