（简答题）
被检工件厚度δ=5mm，要求Ug不大于0.4mm，已知X射线管的焦点尺寸为3x3mm，求最小焦距。
正确答案
f=（δd/Ug）+δ=（5x3/0.4）+5=42.5mm
答案解析
略
相似试题
（简答题）
被检工件δ=24mm，选用焦距f=600mm，要求Ug不大于0.4mm，试计算X光管的焦点大小？
（简答题）
被检工件δ=50mm要求Ug不大于0.4mm，已知X光管的焦点为8mm，试求最小焦距f应是何值？
（判断题）
JB/T4730.4-2005标准规定：当被检工件表面均匀涂层厚度不超过0.5mm，且不影响检测结果时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。
（简答题）
被透照工件厚度δ=60mm，已知X光管的焦点为d=0.4mm，选用焦距为600mm，试求最大半影宽度（即几何不清晰度）？
（简答题）
被透照工件厚度δ=60mm，已知X光管的有效焦点d=0.4mm，选用焦距f=600mm，求该底片的最大几何不清晰度是多少？
（单选题）
以X光机（有效焦点尺寸3mm）检测厚度10mm的钢板，若要求几何不清晰度Ug为0.5，则射源至底片的距离至少应为多少？（）
（单选题）
被检工件的形状、厚度有差异时，可以采用哪些补偿方法进行射线照相？（）
（单选题）
JB/T4730.4-2005标准规定：如果被检工件表面残留有涂层，当涂层厚度均匀不超过（），且不影响检测结果时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。
（判断题）
对工件干燥处理时，被检面的温度不得大于50℃。
