：∵Ug=d•δ/（f-δ）
∴f=（d•δ/Ug）+δ=（8×50/0.4）+50=1050mm
（简答题）
被检工件δ=50mm要求Ug不大于0.4mm，已知X光管的焦点为8mm，试求最小焦距f应是何值？
正确答案
答案解析
略
相似试题
（简答题）
被检工件δ=24mm，选用焦距f=600mm，要求Ug不大于0.4mm，试计算X光管的焦点大小？
（简答题）
被检工件厚度δ=5mm，要求Ug不大于0.4mm，已知X射线管的焦点尺寸为3x3mm，求最小焦距。
（简答题）
被透照工件厚度δ=60mm，已知X光管的焦点为d=0.4mm，选用焦距为600mm，试求最大半影宽度（即几何不清晰度）？
（简答题）
被透照工件厚度δ=60mm，已知X光管的有效焦点d=0.4mm，选用焦距f=600mm，求该底片的最大几何不清晰度是多少？
（判断题）
对工件干燥处理时，被检面的温度不得大于50℃。
（单选题）
着色检测时，通常被检工件表面可见光照度应大于或等于（）。
（判断题）
JB/T4730.4-2005标准规定：当被检工件表面均匀涂层厚度不超过0.5mm，且不影响检测结果时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。
（单选题）
JB4730－94中规定，荧光磁粉探伤时黑光灯的紫外线强度一般要求在工件被检表面处应不低于（）
（单选题）
板厚不大于20mm的碳素钢、低合金钢时，用CB1试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50％，再提高（）作为基准灵敏度。
