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(单选题)

粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约()的粉末试样。

A100目

B120目

C150目

D180目

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

相似试题

  • (单选题)

    粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,我们采用()对粉末样进行定型。

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  • (多选题)

    X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品,样品的()会造成分析误差。

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  • (填空题)

    X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()

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  • (单选题)

    X荧光仪分析炉渣中钙时,检测器实际检测的是()的光信号。

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  • (多选题)

    目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有()方法。

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  • (多选题)

    采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣,在熔制玻璃熔片时,需要加入()

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  • (判断题)

    X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差。

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  • (填空题)

    采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。

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