（多选题）
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。
A粒度效应
B矿物效应
C酸度变化
正确答案
答案解析
略
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（填空题）
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
（填空题）
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
（单选题）
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（多选题）
目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。
（单选题）
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。
（填空题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
（简答题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
（填空题）
X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。
（填空题）
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
