（简答题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
正确答案
对分析面的要求是表面平整、纹路一致、光洁度高、无气孔、无裂纹、无夹渣。
答案解析
略
相似试题
（填空题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
（填空题）
X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。
（填空题）
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（填空题）
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（多选题）
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
（多选题）
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（判断题）
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（判断题）
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
（判断题）
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