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(填空题)

X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()

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  • (简答题)

    X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?

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    X射线荧光光谱法中,分析微量Si的样品不能用()磨料抛光。

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    X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。

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    采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。

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    X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果,应使用有证的标准样品,标准样品与分析试料的()尽可能一致。

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    X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差。

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    X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()

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    X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

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  • (判断题)

    进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。

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