可测定下列性能指标
（1）探伤仪的水平线性、垂直线性、动态范围；
（2）调整纵波探测范围、校正时基线；
（3）测定斜探头的分辨率、入射点、声轴偏斜角、折射角或K值；
（4）测定直探头的分辨率，盲区和穿透力；
（5）调节横波扫描速度和零位校正。
（简答题）
CSK—1A试块能测定探伤仪和探头的哪些指标？
正确答案
答案解析
略
相似试题
（简答题）
CSK——1A试块能测定探伤仪和探头哪些指标？
（简答题）
CSK—1A试块能测试探伤仪和探头的哪些指标？
（简答题）
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
（单选题）
CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（）。
（判断题）
CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
（判断题）
在用CSK-1A试块进行斜探头入射点和前沿距离的测量时,读数应精确到毫米。
（判断题）
CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。
（单选题）
CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头。
（简答题）
画出在CSK-1A试块上测定不同斜探头K值图。
