试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？

试块用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件，它主要用于确定合适的探伤方法；确定探伤灵敏度和评估缺陷大小；校验仪器及测试探头和仪器的性能。CSK—IA试块可测定仪器和探头的性能有：（1）利用厚度25mm和高度100mm，测定探伤仪的水平、垂直线性、动态范围和调整纵波探测范围；（2）利用R50和R100调整横波探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）；（3）利用高度85，91，100mm测定直探头分辨率；（4）利用φ40、φ44、φ50曲面测定斜探头分辨率；（5）利用50曲面和φ1．5横孔测定斜探头K值；（6）利用φ50有机玻璃块测定直探头盲区和穿透力；（7）利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

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