(单选题)
与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()
A单斜探头法
B单直探头法
C双斜探头前后串列法
D分割式双直探头法
正确答案
答案解析
略
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(单选题)
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晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()