（单选题）
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为（）
A直射法
B斜射法
C表面波法
D上述三种都不对
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）
（填空题）
垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
（单选题）
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
（单选题）
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）
（单选题）
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。
（单选题）
锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
（单选题）
锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
（单选题）
用水浸法超声波纵波垂直入射探测钢板，要使第二次水层界面回波与钢板第二次底波重合，则水层厚度与钢板厚度之比应为（）
（单选题）
在工业超声波中能分辨出距探测面最近的回波缺陷的能力称为（）
