(单选题)
不影响X荧光分析的主要因素有()。
A粒度效应
B矿物效应
C基体效应
D光电效应
正确答案
答案解析
略
相似试题
(多选题)
用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有:()
(判断题)
X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。
(填空题)
X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度直接影响()
(填空题)
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。
(判断题)
在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
(简答题)
X射线荧光分析法有何特点?
(多选题)
X射线荧光光谱分析标准化的方法有()校正法。
(多选题)
目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有()方法。
(判断题)
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。