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(判断题)

表面波探头用于探测工件表面缺陷。

A

B

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

相似试题

  • (单选题)

    表面波探头用于探测工件()缺陷。

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  • (判断题)

    双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

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  • (填空题)

    表面波探头用于探测工件()。

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  • (填空题)

    频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

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  • (单选题)

    用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。

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  • (单选题)

    双晶探头用于探测工件()缺陷。

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  • (简答题)

    在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

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  • (填空题)

    探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头。

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  • (填空题)

    探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。

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