（填空题）
为有效的发现工件内部的片状缺陷，在射线探伤法和超声波探伤法二者之间，选用（）方法最合适。
答案解析
（判断题）
双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
（单选题）
表面波探头用于探测工件（）缺陷。
表面波探头用于探测工件表面缺陷。
双晶探头用于探测工件（）缺陷。
横波探伤时，既可发现工件内部缺陷，又可发现（）缺陷。
（简答题）
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
当工件厚度较大时，怎样便于发现远区缺陷？
在渗透探伤法中，为了检测工件中微小的缺陷，应选择水洗性荧光渗透探伤法。
