（判断题）
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
（简答题）
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
（单选题）
千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。
（简答题）
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
（简答题）
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
（判断题）
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
（简答题）
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
（判断题）
用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度，测量结果可能产生一个合格，一个不合格。
（单选题）
用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。
