检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。
（简答题）
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
（单选题）
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）
（简答题）
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
（简答题）
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
（单选题）
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。
（判断题）
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
（简答题）
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
（简答题）
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
（判断题）
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
