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(单选题)

半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()

A可靠性测定试 

B可靠性鉴定试验 

C可靠性验收实验 

D环境应力筛选试验

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

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