（单选题）
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
A测定斜探头K值
B测定直探头盲区范围
C测定斜探头分辨力
D以上全是
正确答案
答案解析
略
相似试题
（填空题）
CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）
（判断题）
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
（判断题）
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
（填空题）
利用CSK-IB试块R50、R100两曲面回波按水平1：1调整扫描速度时，如探头K值为1，则R50、R100的回波前沿应分别对准水平刻度的（）和（）
（单选题）
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。
（单选题）
板厚不大于20mm的碳素钢、低合金钢时，用CB1试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50％，再提高（）作为基准灵敏度。
（判断题）
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
（判断题）
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
（简答题）
什么是试块？试块的主要作用是什么？
