（判断题）
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
A对
B错
正确答案
答案解析
略
相似试题
（单选题）
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
（判断题）
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
（判断题）
CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。
（填空题）
CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）
（判断题）
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
（单选题）
CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同
（单选题）
CSK-IIIA试块上的Φ1x6mm横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同
（单选题）
对比试块上的人工反射体尺寸（）。
（单选题）
黄铜板镀铬裂纹试块上有一层脆性镍铬镀层，这些试块上的裂纹（）
