（多选题）
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A均匀性
B粒度效应
C辐射
D吸收-增强效应
正确答案
答案解析
略
相似试题
（判断题）
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
（判断题）
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
（多选题）
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
（填空题）
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
（填空题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
（简答题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
（填空题）
X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。
（填空题）
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
（判断题）
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
