（简答题）
X射线荧光光谱仪分析原理是什么？
正确答案
荧光仪产生的一次X射线照射到试样上，产生带有试样所含元素的特征谱线的荧光X射线（二次射线）经入射狭缝、分光晶体分光，出射狭缝，留下某元素特征射线，由探测器进行测定，测出该元素的X射线强度，再由计算机进行强度←→含量曲线数据换算得出试样中该元素的含量。
答案解析
略
相似试题
（简答题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
（单选题）
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。
（简答题）
简述X射线荧光光谱分析的优点。
（单选题）
能量色散型X射线荧光光谱仪利用（）进行定性分析。
（判断题）
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
（判断题）
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
（填空题）
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
（多选题）
X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。
（多选题）
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
