（单选题）
用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰，需要先在试验电源正、反相两种极性下，测量两组数据：C1tgδ1、C2tgδ2，然后按公式（）计算出试品的实际的tgδ值。
Atgδ=（tgδ1+tgδ2）/2
Btgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1-C2）
Ctgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1+C2）
Dtgδ=（C2tgδ1+C1tgδ2）/（C1+C2）
正确答案
答案解析
略
相似试题
（简答题）
已知110kV电容式套管介损tgδ在20℃时的标准不大于1.5%，在电场干扰下，用倒相法进行两次测量，第一次R31＝796Ω，tgδ1＝4.3%，第二次R32＝1061Ω，-tgδ＝－2%，分流器为0.01档，试验时温度为30℃，试问这只套管是否合格？（30℃时tgδ换算至20℃时的换算系数为0.88）
（简答题）
用QS1型西林电桥测tgδ，消除电场干扰的方法有哪些？
（判断题）
在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时，若存在电场干扰，则在任意测试电源极性的情况下，所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。
（简答题）
用西林电桥测量tgδ时，若有磁场干扰，试述其消除方法？
（判断题）
现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值大。
（单选题）
在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tgδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列项目（）的说法是错的。
（单选题）
在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tgδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列项目（）的说法是错的。
（判断题）
采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时，若试品的电容量较小，测量中出现负值，一定是存在着电场干扰。
（判断题）
现场用电桥测量介质损耗因数，出现－tgδ的主要原因：①标准电容器CN有损耗，且tgδN＞tgδx；②电场干扰；③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响；④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。
